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Spec Metrix是工業(yè)物理(Industrial Physics)旗下專業(yè)涂層測試品牌,專注非接觸式測量技術,擁有多項光學干涉技術專利。ROI增強型光學干涉技術,支持亞微米級精度,適用任何基材和涂層類型(金屬除外)
高級實驗室系統(tǒng):離線樣品測試
ACS系統(tǒng):專用于金屬容器。
增強型系統(tǒng):兼顧離線與在線測量,模塊化設計。
為薄膜和卷材應用提供可靠且連續(xù)的在線數(shù)據(jù)

雙(頂部和底部)橫移系統(tǒng)顯示的在線測量數(shù)據(jù)

橫移系統(tǒng)可提供橫向和縱向的QA質量保證數(shù)據(jù)和分析,滿足不同工廠的需求

三個固定探頭系統(tǒng)顯示的在線測量數(shù)據(jù)
為柔性包裝和 R2R 加工行業(yè)提供連續(xù)且更精確的在線涂層和層厚測量解決方案
屢獲殊榮的 SpecMetrix 在線涂層測量系統(tǒng)為涂覆薄膜、箔片和其他卷材應用的非接觸、無損、實時涂層厚度和膜層測量(無論是濕態(tài)還是干態(tài))提供了更高的精度標準。
這些在線系統(tǒng)采用模塊化設計,具備高速運行能力,有效減少了涂層成本,簡化了不同工廠流程中的設備安裝、工藝轉換和檢查時間,可靈活配置為固定探頭或橫移系統(tǒng)。

SpecMetrix 橫移配置

SpecMetrix 固定探頭配置
測量范圍: 0.3 至 250 微米 (涂層厚度)
精度:涂層厚度的 +/-3% (標稱值)*
*所提供的精度數(shù)字是基于在 0.2 至 250 微米的整個測量范圍內使用
NIST 可追溯厚度標準進行的精度驗證。
卷繞速度:高達 2000 英尺/分鐘高達 600 米/分鐘
測量速度:高達每秒 150 次
掃描速度:高達 5 英寸(125 毫米)/秒
溫度范圍:0℃ 至 55℃
卷材寬度:可自定義
輸出單位:
微米 microns
密耳 mils
克/平方米 g/m2
磅/令 lbs/ream
毫克/平方英寸 mg/in2 毫克/4平方英寸 mg/4in2
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